低氣壓試驗(yàn)考核的是什么 低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
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健明迪檢測(cè)提供的低氣壓試驗(yàn)考核的是什么 低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) (1)GJB150.2-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低氣壓（高度）試驗(yàn)》 (2)GJB150.2A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第2部，具有CMA,CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
(1)GJB150.2-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低氣壓（高度）試驗(yàn)》
(2)GJB150.2A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低氣壓（高度）試驗(yàn)》程序Ⅰ貯存/空運(yùn)，程序Ⅱ工作/機(jī)外掛飛，程序Ⅲ快速減壓
(3)RTCADO-160G：2010《機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和測(cè)試程序》第4章溫度和高度（不含過壓）
(4)RTCADO-160G：2010《機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和測(cè)試程序》第4章溫度和高度（不含過壓）
(5)GJB360B－2009《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》方法105 低氣壓試驗(yàn)
(6)GJB548B-2005 方法1001 低氣壓《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》方法1001 低氣壓（高空工作）
(7)GB/T2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)M：低氣壓》
(8)GB/T2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》
(9)GB/T2423.26-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》
(10)GB/T4857.13-2005《包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)第13部分：低氣壓試驗(yàn)方法》
對(duì)于其他相關(guān)問題，請(qǐng)點(diǎn)擊右側(cè)在線咨詢，健明迪檢測(cè)客服將為您分配對(duì)應(yīng)工程師，為您提供更專業(yè)的咨詢。
低氣壓試驗(yàn)實(shí)施
由于低氣壓常常伴隨著不同的溫度、濕度環(huán)境，實(shí)際情況下低氣壓試驗(yàn)往往不是單一進(jìn)行，需要相應(yīng)的進(jìn)行溫度-高度或溫度-濕度-高度綜合試驗(yàn)。
實(shí)驗(yàn)室GK-TLP1000C高低溫低氣壓試驗(yàn)箱可實(shí)現(xiàn)溫度-濕度-高度綜合應(yīng)力試驗(yàn)，也可進(jìn)行快速減壓試驗(yàn)。該設(shè)備內(nèi)容積為1.0m3，最低氣壓為0.5kPa（43000m），最快降壓速率3.76kPa/s，溫度范圍（-65～+220）℃。
試驗(yàn)過程中涉及氣壓與海拔高度轉(zhuǎn)換計(jì)算，參考標(biāo)準(zhǔn)GJB365.2-87進(jìn)行。
低氣壓對(duì)產(chǎn)品的影響
氣壓降低對(duì)產(chǎn)品的直接影響主要是氣壓變化產(chǎn)生的壓差作用。對(duì)于密封產(chǎn)品，其外殼會(huì)產(chǎn)生一個(gè)壓力，在這個(gè)壓力的作用下有使密封破壞的風(fēng)險(xiǎn)。
然而氣壓降低的主要作用還在于因氣壓降低伴隨著大氣密度的降低會(huì)使產(chǎn)品的性能受到很大影響。對(duì)于發(fā)熱產(chǎn)品，如電機(jī)、變壓器、接觸器、電阻器等。
這些產(chǎn)品在使用中會(huì)發(fā)熱，產(chǎn)品因發(fā)熱而使溫度升高，這溫度升高部分稱之為溫升。散熱產(chǎn)品的溫升隨大氣壓的降低而增加，隨海拔高度的增加而增加。導(dǎo)致產(chǎn)品的性能下降或運(yùn)行不穩(wěn)定等現(xiàn)象出現(xiàn)。對(duì)于以空氣作為絕緣介質(zhì)的設(shè)備，低氣壓對(duì)設(shè)備的影響更為顯著。
在正常大氣條件下，空氣可以是較好的絕緣介質(zhì)，許多電氣產(chǎn)品以空氣為絕緣介質(zhì)。這些產(chǎn)品用于高海拔地區(qū)或作為機(jī)載設(shè)備時(shí)，由于大氣壓降低，常常在電場(chǎng)較強(qiáng)的電極附近產(chǎn)生局部放電現(xiàn)象，稱之為電暈。
更嚴(yán)重的是，有時(shí)會(huì)發(fā)生空氣間隙擊穿。在低氣壓下，特別是伴隨高溫條件時(shí)空氣介電強(qiáng)度顯著降低，即電暈起始電壓和擊穿電壓顯著降低，從而使電弧表面放電或電暈放電的危險(xiǎn)性增加。
低氣壓試驗(yàn)基本概念
氣壓是指作用在單位面積上的大氣壓力，在數(shù)值上等于單位面積上向上延伸至上界的垂直空氣柱受到的重力，國際單位帕斯卡，簡(jiǎn)稱帕，符號(hào)Pa。由上述定義可知，在自然環(huán)境中，氣壓隨海拔高度的增加而逐漸降低。
在高度接近5000m處，大氣壓力降到約海平面標(biāo)準(zhǔn)大氣壓的一半，在高度接近16000m處降到約海平面標(biāo)準(zhǔn)大氣壓的1/10，在高度接近31000m處降到約海平面標(biāo)準(zhǔn)大氣壓的1/100。同一高度上的大氣壓力還受溫度和緯度的影響。
溫度影響大氣中氣體分子的運(yùn)動(dòng)，溫度越高運(yùn)動(dòng)越劇烈，則在其它同等條件下溫度越高大氣壓力越高；緯度不同受到地球的離心力作用不同，緯度越低作用越強(qiáng)，則在其它同等條件下緯度越低大氣壓力越高。
低氣壓試驗(yàn)就是將試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱（室），然后將箱（室）內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間的試驗(yàn)。其目的主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運(yùn)輸和使用中對(duì)低氣壓環(huán)境的適應(yīng)性。
(1)GJB150.2-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低氣壓（高度）試驗(yàn)》
(2)GJB150.2A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分：低氣壓（高度）試驗(yàn)》程序Ⅰ貯存/空運(yùn)，程序Ⅱ工作/機(jī)外掛飛，程序Ⅲ快速減壓
(3)RTCADO-160G：2010《機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和測(cè)試程序》第4章溫度和高度（不含過壓）
(4)RTCADO-160G：2010《機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和測(cè)試程序》第4章溫度和高度（不含過壓）
(5)GJB360B－2009《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》方法105 低氣壓試驗(yàn)
(6)GJB548B-2005 方法1001 低氣壓《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》方法1001 低氣壓（高空工作）
(7)GB/T2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)M：低氣壓》
(8)GB/T2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》
(9)GB/T2423.26-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》
(10)GB/T4857.13-2005《包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)第13部分：低氣壓試驗(yàn)方法》
對(duì)于其他相關(guān)問題，請(qǐng)點(diǎn)擊右側(cè)在線咨詢，健明迪檢測(cè)客服將為您分配對(duì)應(yīng)工程師，為您提供更專業(yè)的咨詢。
低氣壓試驗(yàn)實(shí)施
由于低氣壓常常伴隨著不同的溫度、濕度環(huán)境，實(shí)際情況下低氣壓試驗(yàn)往往不是單一進(jìn)行，需要相應(yīng)的進(jìn)行溫度-高度或溫度-濕度-高度綜合試驗(yàn)。
實(shí)驗(yàn)室GK-TLP1000C高低溫低氣壓試驗(yàn)箱可實(shí)現(xiàn)溫度-濕度-高度綜合應(yīng)力試驗(yàn)，也可進(jìn)行快速減壓試驗(yàn)。該設(shè)備內(nèi)容積為1.0m3，最低氣壓為0.5kPa（43000m），最快降壓速率3.76kPa/s，溫度范圍（-65～+220）℃。
試驗(yàn)過程中涉及氣壓與海拔高度轉(zhuǎn)換計(jì)算，參考標(biāo)準(zhǔn)GJB365.2-87進(jìn)行。
低氣壓對(duì)產(chǎn)品的影響
氣壓降低對(duì)產(chǎn)品的直接影響主要是氣壓變化產(chǎn)生的壓差作用。對(duì)于密封產(chǎn)品，其外殼會(huì)產(chǎn)生一個(gè)壓力，在這個(gè)壓力的作用下有使密封破壞的風(fēng)險(xiǎn)。
然而氣壓降低的主要作用還在于因氣壓降低伴隨著大氣密度的降低會(huì)使產(chǎn)品的性能受到很大影響。對(duì)于發(fā)熱產(chǎn)品，如電機(jī)、變壓器、接觸器、電阻器等。
這些產(chǎn)品在使用中會(huì)發(fā)熱，產(chǎn)品因發(fā)熱而使溫度升高，這溫度升高部分稱之為溫升。散熱產(chǎn)品的溫升隨大氣壓的降低而增加，隨海拔高度的增加而增加。導(dǎo)致產(chǎn)品的性能下降或運(yùn)行不穩(wěn)定等現(xiàn)象出現(xiàn)。對(duì)于以空氣作為絕緣介質(zhì)的設(shè)備，低氣壓對(duì)設(shè)備的影響更為顯著。
在正常大氣條件下，空氣可以是較好的絕緣介質(zhì)，許多電氣產(chǎn)品以空氣為絕緣介質(zhì)。這些產(chǎn)品用于高海拔地區(qū)或作為機(jī)載設(shè)備時(shí)，由于大氣壓降低，常常在電場(chǎng)較強(qiáng)的電極附近產(chǎn)生局部放電現(xiàn)象，稱之為電暈。
更嚴(yán)重的是，有時(shí)會(huì)發(fā)生空氣間隙擊穿。在低氣壓下，特別是伴隨高溫條件時(shí)空氣介電強(qiáng)度顯著降低，即電暈起始電壓和擊穿電壓顯著降低，從而使電弧表面放電或電暈放電的危險(xiǎn)性增加。
低氣壓試驗(yàn)基本概念
氣壓是指作用在單位面積上的大氣壓力，在數(shù)值上等于單位面積上向上延伸至上界的垂直空氣柱受到的重力，國際單位帕斯卡，簡(jiǎn)稱帕，符號(hào)Pa。由上述定義可知，在自然環(huán)境中，氣壓隨海拔高度的增加而逐漸降低。
在高度接近5000m處，大氣壓力降到約海平面標(biāo)準(zhǔn)大氣壓的一半，在高度接近16000m處降到約海平面標(biāo)準(zhǔn)大氣壓的1/10，在高度接近31000m處降到約海平面標(biāo)準(zhǔn)大氣壓的1/100。同一高度上的大氣壓力還受溫度和緯度的影響。
溫度影響大氣中氣體分子的運(yùn)動(dòng)，溫度越高運(yùn)動(dòng)越劇烈，則在其它同等條件下溫度越高大氣壓力越高；緯度不同受到地球的離心力作用不同，緯度越低作用越強(qiáng)，則在其它同等條件下緯度越低大氣壓力越高。
低氣壓試驗(yàn)就是將試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱（室），然后將箱（室）內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間的試驗(yàn)。其目的主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運(yùn)輸和使用中對(duì)低氣壓環(huán)境的適應(yīng)性。
