GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GJB 150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)
GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分：總則
GB/T 2423.22電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
GB/T 2424.7電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和試驗(yàn)B（帶負(fù)載）用溫度試驗(yàn)箱的測量
IEC60721（所有部分）環(huán)境條件分級(jí)
GB/T 12085.10-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 第10部分：振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
GB/T 12085.13-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
SC/T 7002.2-2016 漁船用電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)條件和方法 高溫
GB/T 12085.2-2022 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱

高溫試驗(yàn)是把試樣暴露在高溫且空氣干燥的環(huán)境中進(jìn)行的試驗(yàn)，其目的是確定軍民用設(shè)備在高溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性。高溫試驗(yàn)作為最常用的試驗(yàn)，用于元器件和整機(jī)的篩選、老化試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)、同時(shí)在失效分析的驗(yàn)證上起重要作用，其技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、時(shí)間、上升速率。
健明迪檢測環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗(yàn)設(shè)備，具備高溫試驗(yàn)等能力，為各類元器件和整機(jī)提供專業(yè)的高溫試驗(yàn)服務(wù)。

健明迪檢測環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種氣候環(huán)境模擬試驗(yàn)設(shè)備，具備高溫試驗(yàn)等能力，為各類元器件和整機(jī)提供專業(yè)的高溫試驗(yàn)服務(wù)。

1. 計(jì)算機(jī)類：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等
2.電子通信類：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等
3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備
4.其他：包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等